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          (TSP-2000-MICR 微小材料電阻測試)

          系統背景

                電阻測試是表征材料特性的 常用測試手段,在某些應用中,用戶(hù)需要進(jìn)行極端微小電阻(Ultra-low resistance)測試,例如納米材料,超導材料,繼電器開(kāi)關(guān),低電阻材料、連接器的測試,或者精密的熱量測定和研究領(lǐng)域。這些被測件通常具有非常高的導電性和非常小的電阻阻值,對測試連接方案有很大挑戰。在進(jìn)行這類(lèi)材料和器件的測試過(guò)程中,為了 大限度的降低被測設備的自熱效應,確保待測件的安全和測量的準確性,通常會(huì )使用加流測壓的方式,在被測物兩端施加可控的微弱精密電流信號,通過(guò)歐姆定律測定被測件的電阻阻值。

          上圖為融化斷裂的納米管,由于施加電流過(guò)大自熱引起斷裂

           

                 在微小電阻測試領(lǐng)域,泰克公司提供的微小電阻測試方案,通過(guò)使用吉時(shí)利高精度電流源622X(100fA~100mA 輸出可調)或2400系列源表,以及納伏表2182A(1nV靈敏度)組合成為完備的測試解決方案,完美解決了在微小電阻測試過(guò)程中經(jīng)常遇到的問(wèn)題,使電阻測量靈敏度高達10nΩ。

                 配合泰克公司方案合作伙伴提供的上位機軟件和測試夾具,可以一站式解決用戶(hù)在儀表與待測件連接,測試結果存儲,以及數據分析過(guò)程中遇到的繁雜問(wèn)題,提高測試效率。

           

          622X 電流源輸出的電流分辨率 高可以達到100fA,可以精確控制加載在待測件兩端的電流大小,確保待測件處在安全狀態(tài)下

           

          • 更先進(jìn)的測試方法,消除熱電動(dòng)勢

          可以使用Delta Mode模式消除,自動(dòng)觸發(fā)電流源使信號極性交替變化,電流反向法消除了任何恒定的熱電失調,確保測量結果反映真實(shí)電壓值,大幅度降低測量中的噪聲信號

           

           

          • 交鑰匙方案設計,可以提供完整的測試夾具方案和上位機數據采集處理軟件

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